Con la crescita esplosiva dei server AI, degli imballaggi HBM, dei semiconduttori di potenza e della localizzazione delle apparecchiature correlate, i materiali ceramici semiconduttori sono diventati uno dei campi di applicazione della ceramica avanzata-in più rapida crescita negli ultimi anni. Gli esempi includono allumina e nitruro di alluminio utilizzati negli imballaggi, ceramiche funzionali come termistori NTC/PTC e varistori ZnO e ceramiche strutturali per apparecchiature come mandrini elettrostatici (ESC), riscaldatori, anelli di messa a fuoco e componenti di isolamento delle camere. La dimensione media delle particelle delle polveri iniziali per questi materiali è per lo più nell'intervallo submicronico, con una porzione considerevole nell'intervallo nanometrico (<100 nm). Moreover, most are mixtures with extremely high surface energy, making them difficult to disperse, which in turn leads to significant deviations or even errors in particle size analysis.
Gli analizzatori laser delle dimensioni delle particelle venivano originariamente utilizzati come strumenti di analisi delle polveri per scopi generici. Tuttavia, con l’intensificarsi della concorrenza nel settore e una più profonda comprensione delle applicazioni da parte dei produttori di strumenti, sono emerse tecniche, funzioni e persino modelli più specializzati per soddisfare meglio le esigenze dei clienti professionali. Fornire soluzioni specifiche del settore-per materiali ceramici semiconduttori è altamente in linea con le tendenze del mercato-ciò è dovuto, da un lato, ai limiti intrinseci degli strumenti di diffrazione laser e, dall'altro, alla composizione complessa e all'ampia distribuzione granulometrica delle polveri ceramiche semiconduttori. Secondo il consenso del settore, solo il 10% circa degli errori di misurazione ha origine dall'unità di rilevamento dello strumento, mentre oltre il 90% dei problemi deriva dalle fasi di campionamento e dispersione. Inoltre, materiali diversi hanno indici di rifrazione e coefficienti di assorbimento distinti-ad esempio, l'allumina ha un indice di rifrazione di solo 1,76, mentre il carburo di silicio supera 2,6, quindi l'utilizzo di impostazioni di parametri identiche per materiali diversi inevitabilmente distorce i risultati. Le misurazioni della "dimensione limite delle particelle" sono un'altra trappola comune: le particelle estremamente fini soffrono di un forte calo dell'intensità di scattering, mentre le particelle estremamente grossolane affrontano problemi come segnali di scattering concentrati e risoluzione insufficiente.